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TT230涂層測厚儀,北京時(shí)代TT230氧化膜測厚儀

簡要描述:TT230涂層測厚儀是一種超小型測量儀, TT230氧化膜測厚儀能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2023-07-29
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詳細(xì)介紹

TT230涂層測厚儀,TT230氧化膜測厚儀

TT230涂層測厚儀是一種超小型測量儀, TT230氧化膜測厚儀能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量。TT230涂層測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于TT230氧化膜測厚儀體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。
TT230 涂層測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 49571985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 83931996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 81893 《電渦流式測厚儀》

TT230涂層測厚儀特點(diǎn)

TT230 涂層測厚儀采用了渦流測厚法,可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測量;
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(SDEV);
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能;
具有打印功能,可打印測量值、統(tǒng)計(jì)值;
具有欠壓指示功能;
操作過程有蜂鳴聲提示;
具有錯(cuò)誤提示功能;
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。

TT230涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)

測頭類型

N

測量原理

電渦流

測量范圍

0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻

低限分辨力

1µm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式

一體化

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[3%H+1.5]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[1%~3%H+1.5]

測量條件

zui小曲率半徑(mm)

10

基體zui小面積的直徑(mm)

ф5

zui小臨界厚度(mm)

0.3

溫濕度

0~40
20%RH90%RH

統(tǒng)計(jì)功能

平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(SDEV

工作方式

直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測量方式

連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE

上下限設(shè)置

存儲能力

15 個(gè)測量值

打印/連接計(jì)算機(jī)

可選配打印機(jī)/不能連接電腦

關(guān)機(jī)方式

自動(dòng)

電源

二節(jié)3.6V鎳鎘電池

外形尺寸

150×55.5×23mm

重量

150g

TT230涂層測厚儀配置

主機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)片一套(50um 100um 200um 500um 1000um
鋁基體
充電器


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