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ST-21H型方塊電阻測(cè)試儀

瀏覽次數(shù):1139更新日期:2020-05-26
ST-21H型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
    該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、精度高的特點(diǎn)。
 
◆ 特點(diǎn)

1

 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定,低功耗;

2

 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰;

3

 采用單個(gè)電池供電,帶電池欠壓指示;

4

 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

5

 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術(shù)指標(biāo):
 

測(cè)量范圍

 按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔:
  1.方塊電阻 1.0~1999.9Ω/□;
  2.方塊電阻 10~19999Ω/□;
 z小分辨率:0.1Ω/□;

恒流源

 測(cè)量過(guò)程誤差:≤±0.8%

模數(shù)轉(zhuǎn)換器

 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕顯示;極性,超量程均自動(dòng)顯示;小數(shù)點(diǎn)同步顯示;

測(cè)量不確定度

 在整個(gè)量程范圍內(nèi),測(cè)量不確定度≤5%

四探針探頭規(guī)格

 間距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

電源

 9V疊層電池1節(jié)
 
◆ ST-21H方塊電阻測(cè)試儀可選配HP系列四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格

型號(hào)
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直線

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直線

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直線

 
◆ ST-21H方塊電阻測(cè)試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格

型號(hào)
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

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